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技術(shù)新知

電源壽命及可靠度探討分析

文字:[大][中][小] 手機頁面二維碼 2019/9/20     瀏覽次數(shù):    

本文主要討論電解電容Life time驗證與壽命評估。

鋁質(zhì)電解電容(aluminum electrolytic capacitor)受使用條件(溫度,負載等)的影響很大,長時間的運作之下,其電容值減小且損耗角(tanδ)增加,而影響其使用壽命。這種現(xiàn)象主要是由電容中電解質(zhì)的擴散效應(diffusion effect)所導致,即電解質(zhì)擴散到外封材料進而散溢到外部。一般鋁質(zhì)電解電容壽命可使用Arrhenius定律(化學擴散反應速率)為基礎來估算,于一段時間后逐漸干涸造成容值下降/內(nèi)阻(ESR)上升而造成電容損壞。當環(huán)境溫度增加10℃,其壽命會減少一半,反之,如溫度降低10℃,其壽命會增加1倍。

(1)初期故障期間

為了防止初期故障,在成品出貨之前已篩選出不良零件和做過老化測試,因此S.P.S.交給客戶時大都已進入偶發(fā)故障期間。

(2)偶發(fā)故障期間

產(chǎn)品穩(wěn)定度與其信賴度(MTBF)有關(guān),基本上故障率都很低,但是偶發(fā)期間的故障率與使用者的安裝和工作條件(環(huán)境溫度、減額、通風、振動)有關(guān)。

(3)耗損故障期間

偶發(fā)故障期后產(chǎn)品即進入耗損故障期間,此時大都屬于零件的老化(如風扇、電解電容器)。

使用壽命(life time)與負載(load)及溫度之關(guān)系

依上述浴缸曲線來探討,對于偶發(fā)故障期間之信賴性與使用者安裝或應用條件(環(huán)境溫度、減額、通風、振動)有關(guān)。先屏除其他外在影響條件,以環(huán)境溫度(Tamb.) 或產(chǎn)品機殼溫度(Tcase)與負載條件執(zhí)行產(chǎn)品壽命分析探討。

明緯產(chǎn)品壽命驗證是以國際知名電解電容制造商提供的計算方式為根據(jù),以CLG-150機型為例,為全灌膠機種, 其設計輸出電容采用10000小時@105℃之日系品牌鋁質(zhì)電解電容,其電容壽命V.S 負載V.S溫度之關(guān)系說明如下。


使用壽命與負載及環(huán)境溫度之關(guān)系. : 如圖(一)

使用壽命與負載之關(guān)系,當環(huán)溫為55℃時,負載操作于100% 其壽命約為35Khrs;當負載減額至75%使用,其壽命約為57Khrs,也就是當負載減額使用至75%,壽命可提升1.6倍。

使用壽命與環(huán)溫之關(guān)系,當負載操作于75% LOAD,其環(huán)境溫度操作于55℃其壽命約為57Khrs;當環(huán)境溫度下降至45℃,其壽命約增加1倍為114Khrs。

使用壽命與機殼溫度之關(guān)系 : 如圖(二)


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